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Zuverlässigkeit

Ermüdungsriss entlang der Korngrenzen eines Reflow-gelöteten SMD-Chip-Substratverbunds.

Industrielle Produkte mit hohen Kundenanforderungen benötigen die durchgängige Spezifikation der physikalischen Zuverlässigkeit. Konventionelle statistische Methoden zwingen zu umfangreichen Prüfläufen, wenn die Fehlerraten niedrig werden und die Größenordnung von einigen ppm erreichen. Ein anderer Grund für die Anwendung der physikalischen Zuverlässigkeitsbetrachtung besteht in dem notwendigen Ersatz der "Black-Box-Analyse" von Fehlern durch die ursachenbezogene Ermittlung der Schwachstellen einer Konstruktion. Lebensdauer eines technischen Systems oder eines Konstruktionselements hängt von dem spezifischen Materialverhalten, der mechanisch-thermisch-chemischen Belastung und von den Umgebungsbedingungen während des Einsatz ab.
ICR hat sich auf die Bestimmung der physikalischen Zuverlässigkeit von Materialien, Verbundwerkstoffen und technischen Systemen in der Mikroelektronik und Werkstoffwissenschaft spezialisiert. Sie kann nur durch eine Kombination von theoretischen Betrachtungen, experimentellen Untersuchungen und mathematischen Modellierungen quantitativ erfasst werden.

 

 
 
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